基本信息
标准名称: | 超辐射发光二极管组件测试方法 |
英文名称: | Measuring methods for super luminescent diode module |
中标分类: | |
发布部门: | 中华人民共和国信息产业部 |
发布日期: | 2000-10-20 |
实施日期: | 2000-10-20 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: | 电子工业部第44研究所 |
起草人: | 魏进、易向阳、常利发、李春芳 |
出版社: | 工业电子出版社 |
出版日期: | 2004-04-19 |
页数: | 28页 |
适用范围
本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。
本标准适用于超辐射发光二极管组件(以下简称“组件”)光电参数测试。
前言
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目录
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引用标准
GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
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